Características del XGT-7200 Microscopio Analítico de rayos X para análisis de materiales.

                                                                      Introducción

El desarrollo de nuevos materiales, así como, el mejoramiento de los materiales utilizados en las diferentes tipos de industrias como automotriz, geología, electrónica, farmacéutica, etc., ha ido en aumento debido a las nuevas regulaciones. Por lo tanto el análisis de materiales que ayuden a mejorar la sostenibilidad, optimizando los consumos y mejorando la eficiencia es cada vez mayor. Por tal motivo las industrias deben de contar con equipos para analizar materiales de forma más rápida, confiable y con costos.

Por tal motivo el uso la fluorescencia de rayos X (XRF) es la mejor opción debido a que es una técnica no destructiva que se utiliza para cuantificar las composiciones elementales de los materiales y para medir el espesor y la composición de la película. Los rayos X se usan para excitar la muestra, causando la emisión de rayos X con energías características de los elementos presentes.

El XGT-7200 representa una generación completamente nueva de microscopios XRF, y abre el camino a una nueva era de la ciencia. Ofrece una fusión perfecta entre la observación óptica y las funciones de análisis elemental, revolucionando el mundo del microanálisis estableciendo el micro-XRF como una herramienta de rutina para la investigación.

Especificaciones.

Algunas especificaciones del equipo XGT-Microscopio analítico de rayos X son:

• ·         Elementos: Na a U
• ·         Tubo de rayos X: Voltaje del tubo 15/30/50kV /corriente del tubo 1mA
• ·         Detector de rayos X fluorescente: Detector de giro de silicio refrigerado Peltier (SDD)
• ·         Tubo guía de rayos X: Monocapilar
• ·         Cámara de muestra: Max 450(A) mm × 500(L) mm × 80(D) mm en vacío
• ·         Procesamiento de señal: procesador de pulso digital (unidad INCA)
• 
  
  

Características.

La resolución espacial más alta.

De tubo de guía de rayos X de HORIBA proporciona el análisis de micro-XRF de resolución espacial más alta, con diámetros de haz de rayos X de hasta 10 μm.

Mapeo de imágenes por transmisión por rayos X.

Combinación con las imágenes XRF, el XGT-7200 permite la adquisición de imágenes de rayos X transmitidas (Fig. 2). Esto puede usarse para realizar análisis estructurales internos e identificar regiones de interés no visibles para el ojo. 

Modo de doble vacío.

El sistema XGT- ofrece al usuario modos de vacío doble. Modo de vacío completo, toda la cámara de muestra está sujeta a condiciones de vacío para garantizar la máxima sensibilidad a los elementos ligeros. Modo de vacío parcial, la muestra se mantiene a presión atmosférico mientras que el detector y la óptica capilar se mantiene a vacío. Este modo es ideal para el análisis de muestras que contienen agua, como tejidos biológicos y objetos frágiles arqueológicos / museográficos.

Tamaño de muestra de amplio rango.

Muestras permite analizar una amplia gama de muestras, desde un análisis puntual de 10 μm en una función microscópica hasta análisis mapeados de áreas de hasta 10 cm x 10 cm. 

Ventajas.

El uso de un haz electrónico para el análisis SEM/EDX significa que la técnica es adecuada solo para el análisis de superficie. En cambio el XGT-7200 debido a la naturaleza penetrante del haz de rayos X primario permite la visualización y caracterización de características no visibles a simple vista, y mayores límites de detección en comparación con SEM/EDX, ya que se analizan más átomos. Sobre todo, la XGT-7200  Ofrece una mayor facilidad de uso y es adecuada para el análisis de muestras incluso grandes, con o sin vacío. En la tabla 1 se muestran otras ventajas de usar el XGT- 7200 Microscopio analítico de rayos X de Horiba.

Bibliografía.

X-ray analytical microscope XGT- Scientific.